Difractómetro de Rayos X en polvos D8 ADVANCE
Es utilizado en la realización de experimentos de DRX sobre muestras en forma de polvos y sólidos. Permite mediciones en alta resolución para análisis complejos de fases cristalinas, determinación de la estructura cristalina y, en general, para estudios de cristalografía. Está equipado con las siguientes características: • Fuente de rayos X de cobre de 2.2 kW • Monocromador de haz primario Ge (111) Johansson • Detector lineal LynxEye • Porta muestras rotatorio • Geometría Bragg-Brentano
Aplicaciones
- Determinación de la estructura cristalina
- Identificación de fases cristalinas
- Derterminación de tamaño de cristalita
- Análisis de microteensiones
- Estudios estructurales a bajas temperaturas
Difractómetro de Rayos X en polvos D8 ADVANCE ECO
Es utilizado en la realización de experimentos de DRX sobre muestras en forma de polvos, solidos, películas delgadas y algunas muestras con formas especiales. Permite mediciones para identificación de fases cristalinas, textura, tensiones, determinación de tamaño de cristalita, entre otras. El equipo cuenta con las siguientes características: • Fuente de rayos X de cobre 1.5 kW • Detector lineal LynxEye • Geometría Bragg-Brentano y de haz rasante • Conmutación fácil entre las diferentes geometrías
Aplicaciones
- Determinación de la estructura cristalina
- Identificación de fases cristalinas
- Derterminación de tamaño de cristalita
- Análisis de microteensiones
- Análisis de texturas
Difractómetro de Rayos X en monocristales D8 VENTURE
Es utilizado en la realización de experimentos de DRX sobre muestras en forma de monocristales con dimensiones entre 0.1 y 0.3 mm. Las mediciones obtenidas permiten la resolución y el refinamiento de estructuras cristalinas, estudios de densidades electrónicas y también estudios estructurales de adsorción de gases in situ. Las características del equipo son las siguientes: • Microfuente de rayos X de cobre • Fuente de rayos X de molibdeno • Detector de área PHOTON III
Aplicaciones
- • Resolución y refinamiento de estructuras cristalinas
- • Estudios de densidades electrónicas
- • Estudios estructurales de adsorción de gases in situ
Propiedades magnéticas Magnetometro SQUID (Superconducting Quantum Interference Device o Dispositivo de Interferencia Cuántica Superconductora)
El SQUID es uno de los dispositivos más sensibles para medir campos magnéticos, capaz de detectar campos muy pequeños, incluso aquellos generados por organismos vivos. Se basa en el efecto de la cuantización del flujo magnético, donde los estados superconductores solo pueden existir con flujos magnéticos que son múltiplos enteros de un cuanto de flujo.
Aplicaciones
Ciencia de materiales: Para caracterizar materiales ferro, ferri, antiferro, para y diamagneticos, asi como superconductores, vidrios de spin, etc, usando perturbaciones de temperatura, tiempo y campo externo aplicado en Dc y AC. Posible detectar transiciones de fase usando medidas de Magnetizacion Vs Temperatura y Magnetizacion Vs Campo externo aplicado, etc.
Espectrómetro XPS Modelo K-Alpha, Marca Thermo Fisher Scientific
La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) se utiliza ampliamente para analizar la composición elemental y el estado químico de los materiales. Al detectar la energía cinética de los fotoelectrones expulsados , se puede calcular la energía de enlace de los electrones a partir de su longitud de onda en la energía dada de los rayos X incidentes. Un gráfico de la intensidad de laenergía de enlace de los fotoelectrones permite identificar la composición elemental de los materiales y determinar los estados de oxidación de cada elemento.
Aplicaciones
La XPS tradicional es sensible para detectar elementos en la superficie a profundidades de 2 a 10 nm. Para sondear la composición atómica y los estados electrónicos de elementos cercanos a la superficie (desde profundidades subnanométricas hasta 10 nm), se utilizan XPS con resolución angular y radiación sincrotrón (AR-XPS y SR-XPS, respectivamente) con ángulo de despegue ajustable ( la muestra se concentra principalmente en la parte de las nanopartículas de Au encapsuladas por el CoO). θ TO ) y energía fotónica ( E Ph ) como perfil de profundidad no destructivo. En los materiales ricos en defectos, la presencia de los defectos puede alterar la estructura electrónica y el entorno químico de los elementos, así como las energías de enlace en los materiales.